二手 PHILIPS / FEI XL 40 #293650347 待售

ID: 293650347
Emission Scanning Electron Microscope (ESEM).
PHILIPS/FEI XL 40是一种扫描电子显微镜(SEM),用于一系列材料的详细分析。它具有可变压力模式,使用户能够控制室内的压力,这对于生物物质等易碎样品的成像很重要。场发射源和特殊的Everhart-Thornley气体探测器的结合,使得显微镜在各种条件下运行,并得益于较大的聚焦深度来传递极高分辨率的图像。这款显微镜的特殊之处在于它能够在三维模式下工作,允许用户构建和操纵组件和纳米结构的高度详细的3D重建。显微镜配备了集成的高功率EDS(Energy Dispersive X-ray Spectrometry)检测器,可以同时对样品进行元素分析。EDS探测器进一步与快速自动化的样品加载系统集成在一起,以便于获得组件的完整映射。这些特征的组合产生了多方面的分析能力,使人们能够很好地了解样本的组成。FEI XL 40还配备了镜头内检测器,可实现更好的对比度和成像分辨率。镜头内检测器采用独特的低kV平台调制电子束的电荷,以增加图像中的对比度,提高分辨率。这一特征与镜头内自动扫描系统相结合,使得这种显微镜非常适合捕捉各种材料中最高层次的细节。PHILIPS XL-40构建在易于升级的开放平台上,旨在满足最苛刻的要求。它的设计符合人体工程学,并且可以快速、方便地组装和操作,而且只需经过最少的培训。在监控方面,PHILIPS/FEI XL-40配备了直观的用户界面,可实现简单、功能丰富的可操作性。综上所述,FEI XL-40是一种功能强大、可靠的扫描电子显微镜,专门为详细分析各种材料而设计。由于其创新的技术特点,它能够提供极高分辨率的成像和同时元素分析。它还具有很高的可控性和直观的可操作性,使其成为各种用户的理想选择。
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