二手 PHILIPS / FEI XL 40 #293659624 待售

PHILIPS/FEI XL 40扫描电子显微镜（SEM）是一种先进的分析工具，设计用于优越的信号分辨率和基于分辨率的成像。此显微镜具有多种特性,包括高精度定位和自动样品处理,非常适合样品表征、结构分析和高级成像。SEM通过使用聚焦电子束从样品表面激发二次电子来运作。这些被SEM检测和放大的二次电子允许对样品进行到原子水平的成像。这种技术允许在其他显微镜技术中无与伦比的分辨率。FEI XL 40配备了一个扩展的镶嵌检测器，允许在三个维度上观测样品。该探测器提供了与核心级照片相当的图像对比度和清晰度。此外，PHILIPS XL-40还有一个可选的低真空系统，可以在不带样品充电的情况下进行成像，从而能够研究电敏材料。显微镜还具有电子聚焦和聚焦漂移补偿调节功能,可确保样品保持在锐焦状态,以及高效的样品制备和自动化的样品阶段移动。所有这些功能使PHILIPS XL 40成为市场上最先进的SEM之一。XL 40旨在为任何应用程序提供无与伦比的性能和可靠性。此SEM具有一系列的功能、精确的定位和自动化的样品处理功能,是需要卓越分辨率和成像的应用程序的理想选择。对于追求样品分析卓越的组织来说，XL-40是完美的扫描电子显微镜。