二手 PHILIPS / FEI XL 40 #293665913 待售

PHILIPS/FEI XL 40扫描电子显微镜（SEM）是精密工程和材料科学应用的可靠通用工具。它配备了一个强大的电子束，可以产生高分辨率图像的样品放大到70,000X。FEI XL 40非常适合成像薄而易碎的样品，如2D材料，可用于有效分析多种材料的表面，包括金属和半导体。PHILIPS XL-40由EcoPlane超高真空（UHV）室提供动力,该室保持一个清洁、高真空的环境,这是产生高质量图像所必需的。该腔室的平均故障间隔时间为10,000小时（MTBF）,可确保长期的可靠性和准确性。此外,还主动测量和自动校正图像分辨率,以确保随着时间的推移始终保持准确的结果。FEI XL-40还有一个机动化的舞台，可以容纳更大、更重的样品，并且可以用操纵杆控制，以便精确和易于操作。为了能够快速准确地测量样品，XL-40配备了一套专门的特征分析和数据采集软件。数字图像捕获能够保存图像以供进一步分析,PHILIPS XL 40可以轻松导入和导出图像。此外,该软件还可用于自动样本控制、自动图像对齐以及创建元素图,以显示样品表面上的图样组成。XL 40能够产生多种图像，包括次级和反向散射电子、阴极发光、X射线图和元素图。这种多功能性使得它可以被广泛的应用，从半导体器件的检查和成像到研究陶瓷和金属表面。PHILIPS/FEI XL-40对样品进行细致的处理和分析,为深入了解各种材料和微观结构打开了大门。