二手 PHILIPS / FEI XL 40 #293763396 待售

PHILIPS/FEI XL 40是一款最先进的扫描电子显微镜（SEM），功能非凡。它用于检查纳米级材料的微观结构和三维地形。该系统由包含聚焦电子束的柱、检测系统和样品制备平台组成。FEI XL 40配备了专用的立柱设计，确保了卓越的性能。它结合了带有加热灯丝的轴向型电子枪，能够最大加速电压高达30千伏。它采用两柱设计，采用短弧柱实现低放大倍率成像，采用倾斜长弧柱实现高放大倍率成像。飞利浦XL-40的检测系统为信号捕获提供了多种选择。其标准配置配备了二次电子检测器、反向散射电子检测器、镜头内检测器和信号束成像检测器。这允许进行各种成像和分析,例如真正的3D成像、合成光谱、线扫描等等。飞利浦XL 40还包括样品制备平台。这个平台配备了一系列的样品阶段和配件，如快速交换阶段和FEI-QIT阶段进行内联样品传输。这些工具使用户能够快速、准确地处理和分析各种样本类型。PHILIPS/FEI XL-40是用于研究和工业应用的强大工具。它具有低电压、低真空能力,非常适合非导电材料,高图像分辨率确保用户获得最优质的图像。由于其非凡的能力，XL-40对于希望对纳米级材料进行详细检查的科学家来说是必不可少的。