二手 PHILIPS / FEI XL 40 #9049866 待售

PHILIPS/FEI XL 40扫描电子显微镜（SEM）是用于表征多种材料的强大成像工具。它是一个设备，用于研究表面-地形和组成试样向下到纳米级水平。它具有将样品放大至x 115,000的能力，分辨率为0.50nm，图像清晰度和深度在1nm左右。照明的来源是电子枪，将电子射到荧光屏上。然后，这些电子与目标材料相互作用，产生二次电子，这些电子被探测器捕获，然后作为图像显示在监视器上。FEI XL 40 SEM具有反向散射成像、二次电子成像、阴极发光等广泛的成像能力。也可用于使用能产生二次电子的专用枪分析非导电材料。此外，SEM具有通过能量色散X射线（EDX）分析检测材料化学成分的能力。该设备的软件提供各种图像处理和分析技术，使用户可以对标本进行精确测量，提取大粒子分布的映射，大大扩展显微镜的功能。PHILIPS XL-40 SEM具有提供大视野的大腔室尺寸，一般为560 mm x 330 mm。它可以容纳高达30 "x 24"的大样品，在低真空模式下成像时可提供低至1nm的分辨率。这个SEM有一个内置的液态氮（LN2）冷冻支架，允许在低至-196 °C的温度下分析样品。最后，这台设备有一个能够移动和旋转样品的自动化采样器和样本操纵器，允许对以前因尺寸或形状而无法进行的样品进行分析。PHILIPS/FEI XL-40 SEM是在工业、工程和科学研究中表征样品的重要工具。凭借其广泛的成像和分析能力，SEM的能力可用于识别材料性能和结构，制作样品表面的详细地图，并深入了解材料化学。此外，自动样品处理和LN2冷冻托架的特点进一步增强了设备的能力，用于需要极低温度或操作样品的特殊应用。