二手 PHILIPS / FEI XL 40 #9248867 待售

PHILIPS/FEI XL 40是一种扫描电子显微镜（SEM），用于在比其他形式显微镜更大的放大倍率下获取标本的高分辨率图像。它利用电子而不是光对样品成像，合成的图像可以分析极小的特征，其大小可达纳米。这种SEM具有先进的电子束柱和可调节的磁透镜系统，以及一个有特殊插件的分析室，以容纳更大的样品。在性能方面，FEI XL 40提供优于传统光学显微镜的分辨率、优越的对比度和更高的信噪比。这可以在成像标本时提供更多的细节和清晰度。该模型具有广泛的适用于多种材料的操作模式，如半导体、聚合物和活体样品。此外，它还能成像扫描速度高达每秒5,000倍物理杠杆的大型标本。PHILIPS XL-40具有许多旨在简化成像过程的功能,包括用户友好的图形用户界面、高级样本控制、屏幕上的编辑和分析以及自动数据收集。内置的微处理器还允许自动测量一系列参数,例如样品的厚度和几何形状。该系统还配备了真空自动调节，以保持最优工作条件。在图像采集方面，FEI XL-40利用了一系列微观技术，包括二次电子成像、反向散射电子成像和X射线微分析。图像也可以保存在一系列文件类型中,包括JPEG、BMP和TIFF。数据分析可以在采集后使用特定软件进行。XL-40适用于各种研究和商业应用，设计用于学术和工业环境。它能够为分析和成像目的对一系列粒子进行成像，因此非常适合各种科学研究。