二手 PHILIPS / FEI XL 40 #9250114 待售

PHILIPS/FEI XL 40是一种扫描电子显微镜（SEM），旨在提供高分辨率的成像和分析能力。它配备了列内直接探测器，提供了前所未有的分辨率水平。FEI XL 40能够以高达1.5纳米的分辨率成像各种结构和材料。这使得它成为研究纳米级结构和材料的宝贵工具。PHILIPS XL-40的柱内探测器，即EDX，是一种用于研究样品元素组成的光谱仪。当电子与样品相互作用时，它们会失去能量。EDX测量能量损失并创建样品的元素图，揭示元素组成和分布。这使得在单一分析中研究形态和化学特征成为可能。PHILIPS/FEI XL-40还装有高级级，使其达到0.5纳米的定位精度。此阶段还配备了AutoAlign对齐系统，确保样品始终正确定位以进行成像和分析。舞台可容纳直径不超过100毫米的样品。XL-40非常适合各种材料和样品类型。其可变压力系统允许对低真空样品进行成像，如液体和生物颗粒。此外，反向散射电子探测器提供高对比度图像，非常适合分析较厚的样品，如塑料、陶瓷和金属。XL 40有一系列的高性能分析工具，允许它用于各种应用。其中包括对3D中的样本进行成像和分析、执行地形、组成和相位分析以及测量晶粒大小和分布的能力。它还具有智能样品处理功能,确保样品始终被准确定位和定位以进行分析。综上所述，FEI XL-40是一种功能强大的扫描电子显微镜，具有无与伦比的分辨率和分析能力。其内列EDX探测器、高精度级和可变压力系统使其非常适合广泛的应用，从成像低真空样品到地形、组成和相位分析。它提供了先进的控制和智能水平，使其成为纳米级应用的完美选择。