二手 PHILIPS / FEI XL 40 #9252220 待售

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ID: 9252220
Scanning Electron Microscope (SEM) With OXFORD EDX detector.
PHILIPS/FEI XL 40扫描电子显微镜(SEM)是一种多功能仪器,为用户提供卓越的成像质量和卓越的分辨率。它能够达到1纳米以下的分辨率,非常适合复杂的分析任务。FEI XL 40配备了多种配件,几乎可以容纳任何样本量。它还具有自动校准功能,用户可以任意放大精确测量样品。飞利浦XL-40由两级涡轮泵浦压力设备提供动力,提供超高真空环境,这对于超分辨率成像至关重要。该系统设有差动泵送级,可以在试样外壳内调节压力。加速器电压的范围为0.001至30 kV,给使用者广泛的对比度和景深。电流最高可调整至1​​的,允许精确成像。PHILIPS/FEI XL-40具有一个高度可达36厘米的大腔室,使得研究不同尺寸的样品成为可能。它还拥有一个数字成像装置。易于使用的控制软件具有用户友好的界面,并允许极大的灵活性。XL-40设计用于日常使用,为可重复的实验提供可靠的性能。PHILIPS XL 40具有成像、制图、纳米电学表征、EDS(能量色散X射线光谱)分析、一般样品分析等多种应用。该软件还使获取二维和三维图像成为可能,从而可以进行更详细的分析。该机器还能够生成有机样品的高分辨率图像。它配备了提供高达300 A/cm2亮度的冷场发射枪(FEG)技术,实现了更好的对比度和景象深度。总体而言,FEI XL-40扫描电子显微镜是需要高分辨率图像、出色对比度和易用性的研究人员的理想工具。其全面的功能使其成为任何正在寻找通用可靠SEM的实验室的绝佳资产。
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