二手 PHILIPS / FEI XL 40 #9276331 待售

PHILIPS/FEI XL 40是一种最先进的扫描电子显微镜（SEM），利用扫描电子束来创建材料或样品表面的图像。FEI XL 40在真空环境中运行，电子被加速在探测器或感光材料上产生图像。电子束在样品表面被扫描，当电子撞击样品时被收集。这些电子创造了表面的二维画面。飞利浦XL-40的放大倍数范围从5倍到500,000倍。放大范围是利用电子在1 kV至30 kV的各种加速电压下实现的。XL 40是一个环境SEM,这意味着它具有在各种环境条件下创建高分辨率图像的多种功能。其中包括可变湿度和温度控制、气体输送和液体样品输送。PHILIPS XL 40还具有执行二次和反向散射电子（BSE）成像的能力。BSE成像利用散射出样品表面的电子来创建图像。这种成像技术可以洞察样品的地形、元素组成和所研究材料的厚度。除了SEM功能外,FEI XL-40还包括许多增强其性能的高级功能。这些特性包括高分辨率相机系统、EDS、EBSD、WDS等分析特性、非导电样品的样品碳涂层能力，以及各种探测器以不同模式对样品成像。对于材料科学和纳米技术领域的研究人员来说，XL-40是一种通用而有力的工具。它结合了成像能力、分析特征和环境控制，将使研究人员能够洞悉他们的材料和标本的特性，而传统显微镜技术是无法实现的。