二手 PHILIPS / FEI XL 40 #9399422 待售

PHILIPS/FEI XL 40是一种扫描电子显微镜，设计用于纳米和亚纳米级材料的高分辨率成像。这款电子显微镜的特点是具有高度聚焦和高能电子束的透镜系统，以及冷场发射枪和集成的自动级控制。集成的微处理器和数字成像系统为用户提供了高度详细的成像选项，包括自动对焦和自动导航菜单。它还具有智能对象识别系统，用于快速评估样本。这种特性的结合使得FEI XL 40成为研究和生产中高分辨率成像的绝佳工具。高灵敏度电子检测器提供了以各种模式对材料成像的能力，包括扫描电子显微镜（SEM）和反向散射电子（BSE）检测器。SEM为用户提供了高达50.000倍的高分辨率视图,而BSE检测器使他们能够识别样品的不同特性,如晶界和缺陷部位。PHILIPS XL-40是一种用于分析材料的通用工具,其成像功能可用于许多应用。这些包括测量样品地形，测量化学和结晶性质，成像细胞、细菌和病毒等生物样品。此外，XL-40有助于效率和精度的显着提高，因为电子束可以精确地聚焦在感兴趣的样品上，并且不断监测电子束以确保最佳性能。此外，成像过程的自动化消除了传统SEM研究所需的大量体力劳动。总体而言,PHILIPS/FEI XL-40是实现材料高分辨率成像的绝佳工具。它提供卓越的图像分辨率、自动成像过程和通用应用程序。这些特性使得它非常适合用于研究和生产目的，对于那些需要纳米级高分辨率成像的人来说，这是一个绝佳的选择。