二手 PHILIPS / FEI XL 820 #9243141 待售

PHILIPS/FEI XL 820扫描电子显微镜（SEM）是一种用途广泛、功能强大的工具，用于提供高分辨率成像和样品分析。SEM出色的分辨率、对比度和细节能力使其非常适合广泛的科学应用,如材料和生命科学,以及工业和电子分析。FEI XL 820 SEM的开放式设计允许对各种样本量、形状和厚度进行成像-垂直方向最高可达295mm长和150 mm高。在横向和深度方向上,可用的最高分辨率大约为3nm,从而能够检测和分析纳米级的最小特征。此外，PHILIPS XL 820还拥有独特的设施，可采用"镜头内"二次电子探测器，对绝缘材料和电阻材料进行高对比度成像，不产生充电效果。SEM配备了一个用于原位分析和可变压力（VP）技术的自动化环境室，可在低真空环境（如空气、液体或气体）中进行成像和分析。它还能够进行筛样销毁，特别适合故障分析。它有一个自动对齐系统,允许它直接测量具有复杂几何形状的大长度范围内的轮廓。XL 820 SEM是先进的数据采集和图像处理软件的补充.该软件为分析数据和生成结果提供了高效的方法。它允许用户生成3D图像模型，测量距离，校准特征，甚至执行光谱分析。综上所述,PHILIPS/FEI XL 820 SEM是一款功能强大的工具,可提供出色的分辨率、对比度和细节功能。它是各种微观分析应用的理想解决方桉，从材料和生命科学到工业和电子。独特的功能和先进的软件使其成为研发环境的宝贵资产。