二手 PHILIPS / FEI XL 830 #293627422 待售

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ID: 293627422
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM).
PHILIPS/FEI XL 830扫描电子显微镜(SEM)是一种先进的成像仪器,用于分析表面特征、组成和形态。这种先进的SEM提供了广泛的功能,非常适合物理、化学和材料科学应用。FEI XL 830是一款全自动SEM,具有现场发射源和高分辨率数字信号处理器。这些组件的组合提供了最高级别的性能和多功能性。利用灵活的成像功能,用户可以快速操作摆动、倾斜、范围和调谐器设置,以显示具有精细细节的低分辨率和高分辨率图像。显微镜还能够在常规和STEM(扫描透射电子显微镜)模式下成像。PHILIPS XL 830还允许先进的样品制备和分析。高分辨率数字信号处理器使用户能够正确定位所需的区域进行分析,而样品准备室允许对样品进行精细处理,以便进行最佳分析。高强度电子束和反向散射成像技术使得分析原子尺度样品的组成和结构特性成为可能。XL 830的高功率分析能力与其易于使用的软件和系统组件相匹配,使其成为任何研究实验室的绝佳资产。它的灵活性允许电子束被用于多种图像模式,包括用于检查有机和无机样品的二次和反向散射成像。此外,系统配备了包括能量色散X射线(EDX)光谱、能量滤波透射电子显微镜(EFTEM)、波长色散X射线(WDS)光谱等多种分析能力。这些分析能力使PHILIPS/FEI XL 830成为对纳米级样品进行元素、空间或组成分析的有效工具。总体而言,FEI XL 830是一款用途广泛、功能强大的扫描电子显微镜,使用户能够以超高精度以各种分辨率执行分析。其数字信号处理器和可变控制最大限度地提高了易用性和可靠性,而其高功率分析功能提供了原子级样品的广泛信息。它的灵活性和先进的特点使其成为物理、化学和材料科学领域各种研究应用的理想选择。
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