二手 PHILIPS / FEI XL 830 #293653200 待售

PHILIPS / FEI XL 830
ID: 293653200
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM).
PHILIPS/FEI XL 830是为研究和工业应用而设计的顶级扫描电子显微镜(SEM)。它具有三个独立的电子柱,以实现最大的通用性,从而能够观测分辨率低至2纳米的复杂和复杂的结构。SEM配备了检测系统,可提供高达50纳米的最大对比度和分辨率,为用户提供最佳成像功能。FEI XL 830具有实时查看大视野的功能,这是它的一套高端成像工具所实现的。其中包括数码相机、数码图像分析软件和3D成像。数码相机允许捕获高分辨率图像,而图像分析软件则用于解释收集到的图像。最后,3D成像过程让用户能够从多个角度查看样本,让他们更全面地了解样本的复杂细节。PHILIPS XL 830还配备了用于标本制备的激光系统,可以让用户在不造成损坏的情况下精确切割和切片标本。这个SEM还能够进行元素分析,这使得它成为分析各种材料的理想工具。高分辨率加上集成的探测器,使其成为材料科学研究的宝贵工具。XL 830用户友好,具有易于使用的界面和符合人体工程学的控件。液晶屏使用户可以监控其成像过程,从而轻松调整显微镜设置以获得最佳成像效果。它还具有自动扫描功能,可长时间无人值守地运行扫描,使其成为高吞吐量实验室的合适选择。最后,PHILIPS/FEI XL 830是一款高性能扫描电子显微镜,可提供卓越的成像能力和多功能性。它是广泛的材料分析应用的理想选择,提供高图像分辨率、优越的对比度以及分析多种材料的能力。FEI XL 830具有自动扫描和符合人体工程学的设计,是一种适合任何研究和工业环境的顶级仪器。
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