二手 PHILIPS / FEI XL 835 #293811123 待售

PHILIPS / FEI XL 835
ID: 293811123
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM).
PHILIPS/FEI XL 835是一种高性能扫描电子显微镜(SEM),设计用于纳米级成像。显微镜的放大范围高达100万倍,看到的细节小至1纳米。这种细节和分辨率的水平允许样品的惊人图像,以使单个原子的可视化点。它配备了洛伦兹场反向散射探测器,它提供高对比度和高导电、低导电和绝缘材料之间的清晰区分的图片。FEI XL 835能够产生多种成像模式,包括次级(SE)、反向散射(BSE)衍射(EDX)和透射电子成像(TE)。它还具有先进的6轴级漂移校正,以快速获得正确的成像参数,并最大限度地减少高质量图像的漂移。PHILIPS XL 835具有高分辨率数码相机和视频监视器,对样品进行高分辨率分析,能够检测样品的小细节和变化。显微镜还包括自动化的简单远程、PC控制的操作以及一系列附加附件,使其在各种应用中用途非常广泛。XL 835具有主动冲击电流校正系统,补偿加速度电压的影响,使产生的图像更加准确,工作时间更短。该系统还具有用于最高对比度图像的纯Z焦点校正功能。这款功能强大的显微镜吸引人的特点包括其用于应用高级算法平衡扫描图像亮度和对比度的Sample Rotation和Scan Equalize模式;3 D成像功能;用户友好界面和自动遥控;和原位样品持有者栅格加热。此外,PHILIPS/FEI XL 835配备了场发射电子源和高精度静电屏蔽。这有助于实现出色的分辨率,并减少图像上的充电工件。总之,FEI XL 835是一种具有高端特性的优秀扫描电子显微镜,既能满足材料科学又能满足生物研究的所有需求,使用户能够以惊人的分辨率和准确性进行纳米级成像。
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