二手 PHILIPS / FEI XL 855 Altura #122396 待售

ID: 122396
晶圆大小: 6"-12"
优质的: 1999
Dual ion beam system, 6"-12" Sidewinder ion column Beam current: 20 nA SFEG SEM: 3 nm Schottky FEG Resolution: 3 nm at low kV Chamber loadlock Multiple detector modes (2) Gas injectors EDAX EDS system Magnum Operating system: Windows XP 2 GIS EDX Stage, 8" Stage tilt: 52° EDWARDS QDP40 Dry pump TEM Sample extraction Immersion lens 1999 vintage.
PHILIPS/FEI XL 855 Altura是一款扫描电子显微镜(SEM),专为高通量、高性能成像和分析而打造。它为晶圆和样品成像应用提供卓越的性能。凭借其先进的硬件和软件,用户可以期待卓越的图像分辨率、快速的图像捕获和准确的分析。FEI XL 855 Altura具有160mm的大腔室,能够容纳样品阶段的倾斜和旋转运动,以提高成像和分析的精度。显微镜具有高分辨率的数字延迟场能量滤波器,能够在相差成像模式下实现超高速成像。此外,PHILIPS XL 855 Altura还拥有先进的光学系统,具有高达五轴的控制功能和多种光学模式,包括上照明和半透明后照明。显微镜的探测器为3D成像、低kV成像和心电图提供了卓越的对比度和分辨率。此外,其专利的低真空SE成像模式有助于最大程度地减少样品损坏并最大程度地减少图像伪影。该设计还集成了视觉和预测自适应焦点控制器、通过多个位置全自动移动以及用于控制图像分辨率、对比度和亮度的图像系统技术(IST)软件。XL 855 Altura的其他特性包括冷冻样品的CryoPrep样品加载选项、多图像自动缝合、多通道教育模式、风冷/水冷电子柱、无限成像参数、两束成形光学器件和自动校准模式。借助这些功能和更多功能,用户可以期待卓越的成像分辨率和成像精度。总体而言,PHILIPS/FEI XL 855 Altura是一款先进的扫描电子显微镜,提供强大的成像、分析和控制功能。凭借其先进的数字延迟场能量滤波器、视觉和预测自适应焦点控制器以及IST软件,用户可以期待卓越的分辨率、工件最小化和自动化力学。
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