二手 PHILIPS / FEI XL Sirion #293636315 待售

PHILIPS/FEI XL Sirion扫描电子显微镜（SEM）是一种先进的成像设备，用于研究多种微观特征和材料。这款SEM配备了列内"FEG"野外发射枪（FEG）技术，使其成为检查纳米级粒子的强大工具。FEG产生能穿透薄样本的高能电子，允许更高解析度的影像。其专利的肖特基场发射源（SFES）技术使成像系统能够产生超高对比度、高分辨率的图像。柱内枪的设计和防辐射屏蔽允许更简单的安装过程和最小化的机械损坏的风险。SEM还提供令人印象深刻的映像功能。该单元的分辨率高达1.4纳米，非常适合研究高度详细的结构，如纳米级粒子、薄膜和其他细腻材料。直观的触摸屏界面允许快速轻松地定制对比度、亮度和分辨率级别。这台成像机还可以获取多个图像，允许生成3D重建和高分辨率映射。FEI XL Sirion的自动对准特性使实验的执行变得快速而容易。对齐过程减少了定向样品所需的时间，从而加快了操作速度，使正在进行的实验更容易完成。此外,PHILIPS XL Sirion还提供了一种自动化的表面化学分析功能,能够在不进行大量样品制备的情况下对材料进行表征。最后，XL Sirion SEM还具备多种成像模式，包括低真空、可变压力、ESEM和原位模式。利用这些不同的成像模式，用户可以更轻松地探索材料和粒子，使他们能够更准确地获取样品的详细信息。