二手 RAITH / PREMTEK ionLiNE #9402127 待售
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ID: 9402127
Ion-Beam lithography system
Resolution: 50nm
Dedicated nano FIB column
FE-SEM Column
Liquid metal alloy source for multi-species ion beam technology
Laser interferometer stage
Automated wafer scale e-beam writing
Exposure: 30 kV
Imaging
Thermal shield
Unique split room.
RAITH/PREMTEK离子LiNE是一种扫描电子显微镜（SEM），用于多种不同类型的成像，范围从超低电压到几百伏。它有一个5轴级，提供高精度和较大的长零件工作面积，以及一个高精度的定位系统，使成像分辨率下降到纳米尺度。RAITH离子LiNE能够同时进行低压和高压分析,允许分析任何类型的材料,无论其大小如何。仪器配备了高性能光学器件，使表面细节的成像具有广阔的视野。PREMTEK离子LiNE具有可变光斑大小的光束加速电压，具有较高的传输量和较大的样品区域和各种样本量的优秀光束通量。它还具有可调的压力和温度保护，允许安全可靠的操作在高真空操作。对于成像,ionLiNE具有广阔的视野、三个月的不间断扫描、超高分辨率成像和出色的材料对比度。它配备了自动化的暴露表面分析显微镜，可用于监测表面轮廓，检测表面缺陷，快速获得3D地形。RAITH/PREMTEK离子LiNE还集成了用于化学、元素和晶体学分析的STEM、EBSD和EDS系统。RAITH ionLiNE随附的用户友好、直观的软件允许操作而无需任何复杂的脚本。软件还包括数据采集、图像分析、图像处理和高级统计分析工具。此外,PREMTEK离子LiNE包括三种先进的成像技术,以扩展成像能力：先进的串行截面重建、倾斜柱头和漂移校正。总之，离子LiNE是一种先进的扫描电子显微镜，具有广泛的特点，使其几乎适合任何应用。它具有出色的成像能力,能够产生纳米级的图像,并且先进的工具（如高级串行截面重建、倾斜柱头处理和漂移校正能使成像功能得到扩展。随附的直观软件允许操作而无需任何复杂的编程，使其成为电子显微镜经验有限的用户的理想选择。
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