二手 THERMO FISHER SCIENTIFIC / PHILIPS / FEI Verios G4 #293800547 待售
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ID: 293800547
优质的: 2020
Extra High Resolution Scanning Electron Microscope (XHR SEM)
R560 P/N: 1130751 SE Detector
P/N: 1127809 Plasma cleaner
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Operating system: Windows 7
PC
2020 vintage.
FEI与PHILIPS和THERMO FISHER SCIENTIFIC合作推出了THERMO FISHER SCIENTIF/PHILIPS/FEI Verios G4扫描电子显微镜（SEM），代表了高分辨率成像和分析能力的最新进展。FEI Verios G4旨在为研究人员提供一个强大的工具，以卓越的清晰度和精确度调查纳米级结构和材料。飞利浦Verios G4 SEM的关键特性之一是其超高分辨率功能，提供亚纳米成像和分析性能。这是由一个场发射枪（FEG）电子源，它提供高聚焦电子束具有优越的亮度和稳定性的掺入成为可能。Verios G4能够产生具有特殊细节和对比度的图像，使研究人员能够以原子尺度可视化和分析样品。THERMO FISHER SCIENTIFIC Verios G4配备了先进的检测系统，能够实现各种成像和分析技术。它具有用于高信噪比成像的通用Everhart-Thornley探测器（ETD）,以及用于表面敏感成像的束内二次电子（IB-SE）探测器。此外,THERMO FISHER SCIENTIFIC/PHILIPS/FEI Verios G4还提供了能量色散X射线光谱（EDS）和电子反向散射衍射（EBSD）选项,用于样品的元素分析和晶体学表征。在性能方面,FEI Verios G4 SEM针对高吞吐量和生产率进行了优化。它具有快速光束扫描系统，能够在用户干预最少的情况下快速采集和映射大样本区域。SEM还集成了复杂的自动化和图像处理软件,从而简化了数据分析和解释的工作流程。PHILIPS Verios G4采用用户友好的控制和直观的软件界面,便于操作和实验。该系统配备了一系列成像模式，如高分辨率成像、低压成像、光束减速成像，以适应各种样品类型和分析要求。SEM还提供高级图像处理工具,用于图像增强、量化和3D重建。Verios G4 SEM是为材料科学、生命科学、纳米技术和半导体技术等领域的研究和工业应用而建造的一种健壮可靠的仪器。其高性能能力使其非常适合研究广泛的样品，包括纳米颗粒、聚合物、生物样品和半导体器件。最后，THERMO FISHER Scientific Verios G4扫描电子显微镜代表了纳米级成像和分析的尖端平台。THERMO FISHER SCIENTIFIC/PHILIPS/FEI Verios G4具有超高分辨率成像功能、通用检测系统和用户友好界面,为研究人员提供了一个以前所未有的清晰度和细节探索微观世界的强大工具。
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