二手 TOPCON ABT-32 #9259781 待售
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ID: 9259781
Scanning Electron Microscope (SEM)
With BSE detector
Secondary electron detector
Water chiller for diffusion pump
Mechanical roughing pump
Power supply for BSE detector
I-XRF 550i Micro analysis system.
TOPCON ABT-32是一种扫描电子显微镜（SEM），设计用于材料科学和质量控制的广泛用途。它具有先进的二次电子（SE）检测器，具有优越的信噪比和高分辨率成像能力。其设计允许对薄膜和亚微米级几何形状进行精确分析。ABT-32由一个大功率电子源、一个成像柱、微处理器、样品支架和一个探测器阵列组成。它的电子源可以提供一定范围的能量，从1到15千电子伏特（keV）。它的成像柱具有可调节的放大倍率视图（MFOV）系统,可提供高达260倍的放大倍率,使您能够专注于小至20 nm的细节。利用其专门设计的列内Z平衡，用户可以快速调整分析的稳定性和速度。微处理器能够以高达每秒10帧的速度分析16位图像,从而可以对最大和最详细的样本进行高速分析。其样品持有者可以容纳各种样本量和材料。而它的探测器更容易识别较小的粒子并收集精细的细节。它采用SE探测器对薄膜和亚微米几何形状进行精确分析，并采用次级和反向散射探测器对能量色散光谱（EDS）和X射线进行映射。TOPCON ABT-32的高级功能允许对各种材料进行详细成像。其高效的扫描过程使得它非常适合薄膜和亚微米几何形状的详细分析，确保了最高精度和精度。ABT-32具有各种检测器和方便的样品支架，是任何材料科学和质量控制应用的理想工具。
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