二手 TOPCON DS 720 #9407852 待售

TOPCON DS 720是一种扫描电子显微镜（SEM），提供各种样品材料的高分辨率成像和分析。该仪器非常适合各种分析任务，从纳米级成像到冶金表面分析。DS 720利用肖特基场发射（FEI）电子源，允许对样品材料进行高分辨率成像。这种电子源非常稳定和均匀，可以改善记录图像中的信噪比。此外,TOPCON DS 720还具有可变压力成像室,允许对样品施加一定范围的压力。这种可变压力系统允许在许多不同的大气条件下成像，这取决于所成像样品的类型。此外，该仪器的野外发射枪包括一个有源温度和发射电流稳定系统，有助于进一步降低任何成像噪声。DS 720提供了极为广泛的放大倍率设置,最大可达20,480倍。这在进行分析时提供了很大程度的灵活性。这种电场和磁场引导柱由一系列闭环控制系统驱动，在改变设置时允许精度。此外,在各种设置下,该列的效率都很高,镜像功能针对中端放大倍数进行了优化。此外，该设备还配备了STEM探测器，设计用于纳米级成像。这台仪器还能够使用各种元素分析技术，如能量色散X射线光谱（EDS）和俄歇电子光谱（STEM-AES）。利用这些工具，用户可以快速准确地分析其样品材料的元素组成和结构。TOPCON DS 720为用户提供了一个功能极其强大的设备，用于各种分析和成像任务。先进的控制系统和成像系统允许以纳米分辨率对材料进行详细分析和成像。该工具还可以使用各种元素分析技术，从而进一步扩展其分析能力。DS 720是研究和工业应用的绝佳选择。