二手 TOPCON MI-3080 #9150383 待售

TOPCON MI-3080是一种多模扫描电子显微镜（SEM），设计用于高分辨率成像和分析各种样品材料。这种尖端仪器除了具有低压环境电镜（E-SEM）外，还具有低真空和高真空扫描电子显微镜（SEM）两种功能。集成的数字电子设备使其具有高度的通用性,适用于从基本成像到各种复杂3D分析的各种应用。该设备拥有数字成像系统,可实现高清晰度成像,分辨率高达2纳米,聚焦深度高达0.8海里。MI-3080灵活的设计和先进的波纹管型级允许对尺寸达300 mm x 290 mm的标本进行平滑成像。此外，该单元被设计为人性化，因此即使是新手用户也可以快速启动和运行。对于高级分析,TOPCON MI-3080具有广泛的功能。该仪器包括具有中低电压成像能力的反向散射电子（BSE）检测。它还附带了低压模式下的BSED、中压模式下的SE反向散射成像、中低电压下的气态检测器二次电子成像（GADSEI）等一系列成像技术。在元素分析方面，MI-3080配备了一系列探测器，包括具有4K频谱分辨率的能量色散X射线（EDS）机和用于高分辨率元素映射的波长色散X射线（WDS）工具。这些检测可用于执行各种元素分析，如相位分析、成分映射和晶粒尺寸成像。此外，该仪器与几个附件兼容，包括一个用于离子和电子柱分析的带电粒子检测器以及一系列额外的软件工具。这为广泛的3D分析提供了卓越的功能,例如分析FIB-SEM（聚焦离子束-扫描电子显微镜）、EBSD（电子反向散射衍射）和3D打印。总体而言,TOPCON MI-3080是一种先进的多模式SEM,旨在实现对各种样品材料的高分辨率成像和分析。全面的映像功能、通用的资产设计和高级分析功能使其非常适合广泛的应用。