二手 TOPCON SM 300 #9119621 待售

TOPCON SM 300
ID: 9119621
Scanning electron microscope (SEM).
TOPCON SM 300是一种扫描电子显微镜(SEM),旨在为各种样品提供高分辨率成像能力。该设备配备了高性能的电子光学设备,能够对0.5nm至1,000 nm分辨率的微结构进行详细的观察和分析。它利用场发射枪(FEG)产生聚焦电子束,结合真空室和两级冷凝器透镜系统,用于高达300千伏的超高加速度电压。检测器单元由二次和反向散射电子检测器组成,为成像信息提供高信噪比。它还允许操作员使用多种成像技术,如成分对比、表面成像和3D断层扫描。此外,高级映像软件通过其直观的界面简化了操作,并允许创建用于插图和文档的单索引、多索引和彩色索引图像。SM 300具有多种自动化功能,包括具有10nm精度的电动舞台、可调至300 mm的Z高度,以及由脚开关控制的延伸航向。此外,该机器还允许易于安装和更换检测器、照相机和光学元件,从而为各种应用提供灵活性。此外,该工具的设计和认证符合各种安全标准,包括接地导体,用于连接外部ESD资产。此外,SEM采用环境密封防止腐蚀性和反应性气体及蒸气进入,而样品室则配备加热和冷却模型,以确保长时间运行,而无需人工干预。总之,TOPCON SM 300是一种高性能的SEM,旨在对高达1,000纳米分辨率的样品进行深入分析。它包括各种功能,使其操作最大化,并确保用户的安全。对于需要精细成像功能和易用性相结合的用户来说,它是理想的设备。
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