二手 TOPCON SM 300 #9220578 待售

ID: 9220578
Scanning Electron Microscope (SEM) PRINCETON GAMMA TECH / PGT Prism 2000 OPI023-1033 EDS Detector Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy Resolution: 3.5 nm Magnification: 20x to 300,000x Image display: SEM (SE, BSE) Image format: TIFF / BMP Image resolution: 1280 x 960 Image processor: Recursive filter Specimen stage: TXYRZ Encentric Specimen size: Maximum 125 mm diameter Accelerating voltage: 0.5 to 30 kV PC Controller Operating system: Windows.
TOPCON SM 300是一种先进的扫描电子显微镜(SEM),旨在以卓越的精度提供卓越的成像。它利用电子光学和扫描级技术,以显着的清晰度产生小物体的高分辨率图像。SM 300可提供多种放大倍率,从5倍开始,最大可扩展到300,000倍。它能够产生具有非常精确的景深的图像,以纳米分辨率细化特征。这一特点使得它能够在原子层面成像,从而能够对各种材料进行详细的检查和分析。TOPCON SM 300使用的电子枪经过能量过滤,使研究人员能够操纵电子束的能量产生更高质量的图像。此特征可用于获取更高层次的细节,从而能够检查诸如表面微观结构和晶界等小规模特征。SM 300利用高灵敏度探测器,能够探测小到10到100皮米的粒子。这使得研究人员能够以非常高的精确度区分特征,并获取有关其样本的定量信息。该单元还具有自动图像处理机制,使研究人员能够快速准确地评估从扫描仪获得的数据。该单元还配备了一个高分辨率级,能够对样品进行循环扫描,从而能够在短时间内获取大型图像。TOPCON SM 300还能够在大样本区域绘制非常小的特征,将其应用扩展到多维研究。它配备了强大的自动化数据分析系统,使研究人员能够快速对样本进行分析和评估。从SM 300获得的细节可以很准确地评价样品的形态、组成和结构。此外,还可用于纳米级材料的研究,以及各领域新材料性质的研究。
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