二手 ZEISS Auriga 40 #293774090 待售
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ID: 293774090
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)
Single GIS
Charge Compensator
Plasma Cleaner
Nanomanipulator
Detectors:
STEM
SESI
InLens SE
EsB.
ZEISS Auriga 40是一款尖端扫描电子显微镜(SEM),由着名显微镜解决方桉领导者ZEISS设计制造。Auriga 40是一种多功能、高性能的仪器,为研究和工业领域的广泛应用提供高级成像功能。ZEISS Auriga 40的核心是其创新的场发射电子源,它提供了高度相干的电子束,具有出色的亮度和稳定性。这使得高分辨率成像具有优越的对比度和最小的光束漂移,使其成为具有复杂细节和精细结构的成像样品的理想选择。Auriga 40的关键特性之一是其先进的扫描能力,其中包括高速扫描和对电子束的精确控制。这使用户能够快速准确地获取图像,从而能够在纳米级对样品进行详细的可视化。ZEISS Auriga 40还提供了一系列成像模式,包括二次电子成像、反向散射电子成像和能量色散X射线光谱(EDS),它们提供了关于样品组成和形态的宝贵信息。除了成像功能外,Auriga 40还配备了用途广泛、用户友好的软件界面,可轻松控制和定制成像参数。该软件还提供先进的图像处理工具,用于分析和测量获得的数据,使研究人员能够从其样本中提取有价值的信息。ZEISS Auriga 40具有高性能的标本级,具有多个运动轴,允许在成像过程中精确定位和操纵样品。这对于研究具有复杂几何形状的样本或进行需要实时样本操作的现场实验特别有用。Auriga 40的另一个关键优势是与广泛的样品类型兼容,包括导电材料和非导电材料。这种灵活性使用户无需特殊的样品制备技术就可以对各种样品进行成像,从而使蔡司Auriga 40成为广泛应用的通用工具。此外,Auriga 40的设计考虑了用户的便利性和安全性,具有一系列自动化功能和安全协议,可确保用户和样品的最佳性能和保护。该仪器还得到蔡司着名服务和支持网络的支持,为客户提供可靠的协助和维护,以确保蔡司Auriga 40的长期功能。总之,Auriga 40是一款最先进的扫描电子显微镜,提供卓越的成像功能、高级扫描选项、用户友好的软件界面、通用的样品兼容性和可靠的性能。无论是用于学术研究、工业质量控制还是材料分析,ZEISS Auriga 40都是一个强大的工具,能够以无与伦比的清晰度和细节为微观和纳米世界提供有价值的见解。
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