二手 ZEISS Auriga #9067317 待售
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已售出
ID: 9067317
优质的: 2011
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB SEM)
GEMINI Optik with 0.1-30 kV Emission voltage
Resolution: Approximate 1.9 nm at 1 kV
In-lens secondary electron detector
Chamber secondary electron detector
Energy selective back scatter electron detector (ESB)
(2) Internal infrared CCD cameras
Cobra FIB pillar with low voltage option
Floodgate: 80 mm
BRUKER Quantax 800 EDX System
ZEISS STEM Detector retractable
KLEINDIEK Micro manipulator system
Includes:
Gas injection system (Platinum, carbon)
OXFORD INSTRUMENTS XMAX 51-XMX0085 Electron beam, 31"
Electron beam
Iron beam (FIB)
Pumps
TEM Detector
Secondary electron detector
Load locker
Vacuum pump
Chiller
(3) HEWLETT-PACKARD COMPAQ LA1951g Computer screens
KLEINDIEK Nanotechnik needle system
ZEISS Controller
ZEISS Keyboard / Controller
Anti vibration table
Auxiliary chiller
Vacuum pump
Computer
(2) Screen joysticks
Transportation-locks
Accessories
CE Marked
Power supply: 230 V, 50/60 Hz
2011 vintage.
ZEISS Auriga是一种扫描电子显微镜（SEM），能够对多种材料进行高分辨率成像、元素组成和表面分析。Auriga配备了获得专利的二次电子探测器，提供高接受角度，加上其大信噪比，用于优越的原子和纳米成像。它可以生成高达1.3纳米（nm）的电子图像。ZEISS Auriga的成像特性导致了出色的对比度和无与伦比的细节水平。Auriga还配备了能够进行元素分析的牛津仪器EDX探测器。这可用于收集各种应用的材料组成数据。ZEISS Auriga的EDX功能通过其能量色散X射线微分析（EDXMA）软件得到进一步增强，该软件允许用户使用高级功能处理和分析他们的数据。在表面分析方面，Auriga配备了原位AFM。这允许对各种材料进行地形图绘制以及表征表面粗糙度、粒度和机械性能。该工具的高分辨率也允许分析纳米结构，如量子点。总体而言,ZEISS Auriga是一款出色的SEM,提供高分辨率成像、元素组成和表面分析功能,所有这些功能都可用于多种材料。该工具的灵活性允许广泛的应用，使其成为任何实验室的绝佳选择。
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