二手 ZEISS Crossbeam 1540 EsB #9314992 待售

ID: 9314992
Scanning Electron Microscope (SEM) Columns.
ZEISS Crossbeam 1540 EsB扫描电子显微镜(SEM)是为研究、工业和生命科学应用而设计的高性能平台。它配备了包括双轴偏转器和二次电子检测器的检测器封装,用于非常高的分辨率成像。此外,该设备还与先进的自动化样品准备和导航以及通过内置的蔡司WorkSpace软件控制的电子束成像和分析系统集成在一起。SEM的电压范围为0-30 kV,加速电压高达15kV,允许成像样品厚度高达500 μ m。样品室可容纳200公斤重量,并具有自动和可编程压力、冷冻制备和真空泵等特点。探测器单元包括高分辨率、能量过滤成像、反向散射电子成像和EDS(Energy Dispersive Spectroscopy)。电子光学器件配有三个偏转线圈,在二次电子模式下提供高达6 nm的分辨率,在STEM(扫描透射电子显微镜)模式下提供高达0.7 nm的分辨率。Crossbeam 1540 EsB SEM具有自动幻灯片传输、3轴采样级、6轴采样级和桌面采样机械手等示例导航和操作功能。导航机效率高,具有先进的用户界面,允许手动对齐、导航和聚焦。SEM还配备了一整套自动化选项,例如自动样本搜索、对齐和分析/报告功能,从而实现了较高的样本吞吐量。为方便起见,显微镜内置了自动粒径和形态分析、自动样品装卸、双轴电动电子束压力扫描仪等功能。此外,SEM还包括高达200千克的阶段性负荷以及一套可靠的数据报告和统计分析工具,以便取得可靠和一致的结果。ZEISS Crossbeam 1540 EsB SEM是一种用途广泛、功能强大的成像和分析各种样品的工具。它为研究人员和工业科学家提供先进的成像和分析能力,允许高度准确和全面的样本分析。凭借其分辨率、速度和高吞吐量功能,该工具为一系列应用程序提供了高效且用户友好的平台。
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