二手 ZEISS DSM 960 #293799033 待售

蔡司扫描电子显微镜（ZEISS Scanning Electron Microscope，简称SEM）是一种高度先进的成像仪器，利用电子束产生放大倍数到超过百万倍的表面高分辨率图像。SEMs是材料科学、生物学、纳米技术和地质学等各个领域的重要工具，因为它们能够提供有关纳米级样品形态和组成的详细信息。ZEISS SEM的核心是产生聚焦电子束的电子枪。这种光束被加速到高能（通常在1-30 keV之间），并使用电磁透镜聚焦到样品表面。当电子束与样品相互作用时，产生各种信号，包括二次电子、反向散射电子、特征X射线和阴极发光。这些信号携带有关样品的地形、组成和晶体结构的宝贵信息。二次电子由于与一次电子束的相互作用而从样品表面发射。这些电子由探测器收集，提供关于表面的地形信息。反向散射电子，另一方面是由于与原子核相互作用而从样品向后散射的电子。反向散射电子的检测对于高Z型材料成像和获得成分对比度特别有用。除了成像，蔡司SEM还可以进行能量色散X射线光谱（EDS）来分析样品的元素组成。当电子束撞击样品时，它会激发原子，使它们发出特征性的X射线。集成到SEM中的EDS系统可以检测和量化这些X射线，从而能够识别样品中存在的元素及其各自的浓度。蔡司SEM配备了先进的成像能力，包括现场发射SEM（FE-SEM）和环境SEM（ESEM）等高分辨率成像模式。FE-SEM采用场发射电子源，与传统钨丝电子源相比提供了更高的光束亮度和更高的分辨率。这使得精细的表面细节和纳米级特征的成像具有非凡的清晰度。ESEM允许在可变环境条件下对样品进行成像，如高湿度或低真空，而无需样品制备。这种多功能性使得蔡司SEM成为研究生物样品、水合材料和其他对传统高真空成像条件敏感的样品的宝贵工具。此外，蔡司SEM还配备了先进的图像采集、处理和分析软件。该软件允许自动图像采集、样本的3D重建、元素映射和粒子分析。从ZEISS SEM获得的数据可以用来表征材料，研究破坏机理，分析粒径分布，研究纳米级的生物结构。总而言之，蔡司扫描电子显微镜是对各种样品进行高分辨率成像和元素分析的有力工具。其先进的能力，包括高分辨率成像模式、EDS分析、环境成像，使其成为各科学学科研发不可或缺的工具。