二手 ZEISS EM 109 #293610285 待售

ZEISS EM 109扫描电子显微镜（SEM）是一种高性能分析仪器，能够对各种材料的表面形态和纳米结构进行高分辨率、三维成像。它有一个大的腔室，最多可以容纳一个直径25毫米的样品，并且能够放大一个样品，其大小是原来的40万倍。SEM具有二次和反向散射电子检测器检测样品的各种特征，也有能量色散光谱（EDS）检测器检测样品在周围体积中的元素组成。EM 109 SEM配备了高真空系统，使样品与环境的相互作用最小化，从而实现了准确的图像采集。其高分辨率成像和检测结构和元素组成的能力使其成为分析微观表面特征和纳米结构的理想工具。SEM能够达到1纳米以下的分辨率，能够分辨出表面及其相关纳米结构的精细细节。ZEISS EM 109 SEM的成像能力因其自动化级而进一步增强，允许以纳米分辨率行驶多达55毫米。自动图像缝合和自动曝光可提供准确、可重现的图像,并显着减少获取图像数据所需的时间。这允许用户快速获取大面积样本的高分辨率图像。EM 109 SEM还包含用于数据采集和分析的综合软件套件。这允许自动成像和分析以及后处理分析,以创建3 D重建和体积图像,从而更深入地了解样品的微观结构。除了成像能力外，蔡司EM 109 SEM是材料表征的绝佳平台，为用户提供一系列的数字化和测量分析工具。SEM结合了先进的硬件和软件系统,使用户能够精确测量样品尺寸,精度降至纳米级。它还具有检测原子柱错位、晶界和平面缺陷、量化晶粒尺寸和方向以及表征表面粗糙度的能力。总体而言，EM 109 SEM是一种宝贵和通用的工具，使科学家能够对各种材料进行深入分析和定性。凭借其高分辨率的成像功能和强大的数据分析工具,它可以为用户提供对样品的微观结构和原子特征的宝贵洞察力。