二手 ZEISS EVO 40 #293592536 待售

ZEISS EVO 40扫描电子显微镜（SEM）是一种高分辨率成像工具，用于检查纳米级标本。EVO 40最大工作距离为1毫米，小点视场（FOV）为5nm，分辨率高达5µm，是极精确成像和分析的绝佳选择。蔡司EVO 40是一款具有冷场发射枪（FEG）和薄膜涂层能力的像差校正SEM。FEG创建了一个高度聚焦的电子束，可以产生非常平滑的表面图像，低噪声和非常好的边缘清晰度。薄膜涂层工艺为试样表面提供了一层薄薄的保护，同时允许电子束的高可检测性和对比度。EVO 40还包括一个反向散射检测器和二次电子检测器，允许高度详细的各种特性的图像，包括表面组成、晶粒大小和表面的其他特性。蔡司EVO 40还包括高级软件，提供增强的图像分析。还提供了3D重建、线路扫描和高级对比方法等高级测量和成像工具。这些工具使用户能够执行各种测量,包括形态、面积和尺寸测量、表面粗糙度和结晶度以及复杂的设备结构。此外,EVO 40还提供各种样品支架,以确保兼容性和安全性。蔡司EVO 40采用高性能光学扫描电子显微镜主单元构造。该仪器设计用于安全操作和维护，提供内置安全系统、温度监测和预警系统以及用于锁定显微镜的独立钥匙等功能，以确保安全使用。用户界面直观,提供简单的图形用户界面以及高级测量和成像工具。EVO 40以经济实惠的价格提供独特的高精度成像功能,使其成为各种应用程序的理想SEM。蔡司EVO 40拥有个人界面、精确的成像、可靠的涂层和探测器，是显微镜研究和分析的完美工具。