二手 ZEISS Ultra 55 #293687399 待售
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ID: 293687399
优质的: 2009
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Non-functional
Detectors:
(2) In‐Lens
Secondary Electrons (SE)
Backscatter electron
Everhart‐Thornley SE
Angle Selective Backscatter (ASB)
Energy Selective Backscatter (ESB)
OXFORD INSTRUMENTS INCA 350 EDS
OXFORD INSTRUMENTS EBSD
Beam energy: 100 V to 8 kV
GATAN MiniCL System
IR Chamberscope
2009 vintage.
ZEISS Ultra 55是一种扫描电子显微镜(SEM),能够在广泛的样品上产生高分辨率的图像和极其精确的测量。它是一种有效的实验室仪器,使用户能够以纳米级的精度观察、测量和分析材料。Ultra 55是一种数字成像和分析设备,结合了可变压力和常规电子微粒复制模式。可用于在可变压力模式下观测大面积样品,降低了表面充电效果。该仪器适用于成像工业和研究级半导体晶片等设备,如MEMS、生物传感器和消费电子。加速电压和工作距离的半导体模式和自动优化提供了高达0.7 nm的卓越图像质量。该系统配备了世界知名的双镜头技术,使用户能够全方位进行高分辨率成像。而且,五级能量滤波器将信噪比最大化,以准确识别和测量特征尺寸。ZEISS Ultra 55灵活的功能使其非常适合材料表征。高分辨率的成像和精确的测量,适用于调查组成,表面地形,缺陷计量,和其他特点的广泛的材料。该仪器的纳米级性能使其非常适合对材料的光刻性能进行基准测试。仪器直观的用户界面提供了预定义功能的快捷方式。此外,该单元能够自动获取图像,允许使用单个命令拍摄成批图像。Ultra 55的独特设计将分析和成像功能结合到一个软件包中,以便对材料进行高效、精确的表征。这台机器适合研究和工业市场,可以很容易地与其他仪器结合起来,获得更多的能力。
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