二手 ZEISS Ultra Plus #9028799 待售
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ID: 9028799
FE SEM
0.1 to 30 keV electron beam to image the surface of a sample in high vacuum
Edge resolutions down to 1 nanometer at 15 keV and 1.7 nm at 1 keV
Detectors available:
Inlens SE, Everhart-Thornley SE-BSE
EsB (inlens Energy selective Backscattered electron detector)
STEM (Scanning Transmission Electron detector)
80 mm airlock for sample exchange
Charge Compensation (CC) system:
Places a gas needle close to the sample for localized gas (N2) injection to reduce charging
CC system reduces the skirt effects observed in traditional variable pressure systems and the normal SE detectors (Inlens and Everhart-Thornley) can be used.
ZEISS Ultra Plus是一种先进的扫描电子显微镜（SEM），可以用非常高的分辨率观察材料的结构。这台设备具有高性能的电子柱，可以成像到比5纳米更好的分辨率。电子柱与ZEISS场发射枪耦合，可提供低电子发射和极好的稳定性。该系统还具有微点技术，非常适合对有机材料的结构进行成像，以及高分辨率的大面积反向散射电子探测器。Ultra Plus允许用户快速准确地选择最佳操作条件,并且非常适合纳米结构应用。除了高分辨率成像功能外，ZEISS Ultra Plus还提供电子束光刻和原位加热的可选模块，可为用户提供氢脆、腐蚀、氧化和其他材料特性研究的电、化学和热控制。此外，该装置还具有集成的光谱模块，可用于能量色散X射线光谱和电子能量损失光谱。这种光谱模块对于研究材料的组成特别有用。最后,Ultra Plus具有强大的硬件和软件平台,其中包括自动对齐、漂移校正和高级图像处理技术,以帮助优化工作流程以实现最高效率。此外,可以远程操作设备,允许远程协作或远程访问数据。ZEISS Ultra Plus还包括样品装载单元、镜头内检测器机和亚微米缝合能力。这些功能使用户能够使用各种成像技术轻松准备和观察材料。总之，Ultra Plus是一款先进的扫描电子显微镜，提供高分辨率成像、原位加热和光刻、光谱、自动化和独特的硬件设置，是纳米结构成像和分析的理想选择。ZEISS Ultra Plus是寻找强大的SEM工具的研究人员和工程师的绝佳选择。
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