二手 CAMECA IMS 4F #9210239 待售

CAMECA IMS 4F是一种二次离子质谱仪（SIMS），设计用于分析低至100纳米的表面和薄层的组成。它配备了一个2.5千伏（kV）无场离子源、4检测器质量分离器，以及一个为方便分析超高真空下的样品而设计的样品室。无2.5kV场离子源利用光准直系统聚焦扫描成像离子，实现聚焦离子束近乎完美的分布。这允许高分辨率成像，精度约为1纳米。离子源由四个聚焦电极组成，可单独调整以改变扫描面积和分辨率。四探测器质量分离器由两块磁体、两根四极杆和一对组合场板组成。这种组分组合能够精确测量从样品中提取的离子的质荷比。从四个探测器中的每一个发出的信号都是独立测量的，组合信号被转换为每个质量到电荷范围的总离子数。该样品室是为超高真空条件设计的，可容纳各种样品类型和几何形状，非常适合分析表面和薄层的组成。为了进行成像分析，样品室安装在电动三维样品级。这允许广泛的样品处理和操作，包括能够快速准确地扫描样品的大面积区域。样本阶段由集成软件包控制，可以控制样本旋转、倾斜和聚焦。CAMECA IMS4F能够进行多种分析，包括深度剖析、同位素分析、二次离子成像和表面成分分析。这种强大的功能组合使用户能够灵活地以经济高效和可靠的方式准确测量曲面和薄层的组成。