二手 CAMECA IMS 4F #9250201 待售

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製造商
CAMECA
模型
IMS 4F
ID: 9250201
Secondary Ion Mass Spectrometer (SIMS) Multiple immersion lens strip Duoplasmatron and cesium source Charge auto compensation electron gun for insulator analysis Liquid nitrogen cooled fracture stage attachment Cryo pump vacuum system Dynamic transfer system Scanning ion image display Secondary imaging.
CAMECA IMS 4F光谱仪是一种多收集器质谱仪,设计用于薄膜材料的高空间分辨率成像和深度剖析。它允许对材料进行精确的同位素表征,并可用于构建高分辨率的沉积物3Dmaps和样品表面和地下的粒子分布。CAMECA IMS4F设备是一种四元收集器质谱仪。每个收集器包含四根细丝,允许对样品进行完整的同位素表征。每个集电极的阳极呈弯曲狭缝的形式,与双差分控制器相连,允许对离子束进行时空控制。收集器正交定位,并且可以相对于样品曲面移动到不同的位置。IMS-4F系统能够进行外部和内部离子成像。外部离子成像(EII)是用来成像样品表面,允许同位素映射沉积物如杂质或污染物。内部离子成像(III)用于成像样品的地下,允许高分辨率深度剖析沉积或离子植入。CAMECA IMS-4 F单元配备了多种有助于确保准确数据收集的功能。其中包括允许高离子电流密度的Bruker ICA光学器件,高信噪比的Merlin预放大器,以及允许广泛滤波和聚焦选项的半智能电子机器。IMS4F工具具有超高精度的空间分辨率。它能够成像尺寸小至0.3纳米的粒子。这种能力使得IMS 4F资产非常适合在薄膜材料中成像纳米级结构。综上所述,CAMECA IMS-4F光谱仪是薄膜材料高空间分辨率成像和深度剖析的有力工具。它的四元素收集器和先进的光学器件能够对样品进行精确的同位素表征,用于各种应用。它具有小至0.3纳米的粒子成像能力,是一种高度通用、精确的质谱仪。
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