二手 CAMECA IMS 5F #293652624 待售

CAMECA IMS 5F（离子微探针二次离子质谱仪）是一种基于二次离子质谱（SIMS）技术的独特而强大的分析工具，能够研究具有高度尺寸和化学分辨率的表面、界面和薄膜。IMS 5F允许进行表面元素组成分析、地形表面特征的定量3D成像,以及具有一系列同位素比和检测极限的元素和同位素成像。该仪器的性能因其获得专利的Cs$^+$主要离子源而得到进一步提高,其组合使得CAMECA IMS 5F理想的材料分析应用,如材料的微量元素分析、地形和深度剖析特征。利用专门设计的数据采集和分析软件，IMS 5F可以在一系列组成尺度中识别和量化有机和无机样品的元素和同位素组成。由于其高质量分辨率和检测极限，CAMECA IMS 5F能够提供定性和定量的元素和同位素分析到亚原子水平。IMS 5F使用Primary Cs$^+$的离子束,能够对厚度高达150 nm的样品进行深度剖析,覆盖范围高达1.7亿Å$^2$。CAMECA IMS 5F具有在可变主光束电流下运行的附加优势，使用户能够从0.05 pA至3500 pA的离子束电流选择中进行选择。此功能使用户能够使用一系列动态深度和横向分辨率进行采样。IMS 5F还提供高灵敏度图像映射,横向分辨率低至1nm,面积可达4.8 mm$^2$。CAMECA IMS 5F成像的动态范围从低ppm水平到报告元素的几个权重百分比。其元素和同位素分析能力与高分辨率成像和深度剖析相结合，意味着IMS 5F非常适合各种重要应用，包括但不限于： 表面和特征的3D成像、材料分析、纳米级分析、电子掺杂分析、深度分析和污染研究、半导体和陶瓷分析、成分分析和材料验证。