二手 CAMECA SX-100 #293773834 待售
网址复制成功!
单击可缩放
ID: 293773834
Electron microprobe
Beam current range: 5x10-7 to 10-12 A
Beam position: ± 0.5 µm in 1 hour at 10 kV
Beam current variation:
± 0.5 % in one hour
± 1 % in 12 hours
Accelerating voltage: 0.2 to 30 kV
Secondary Electron Detection and Imaging (SEM)
Energy Dispersive Spectrometry (EDS)
Backscattered electron detector
Wavelength dispersive X-rays spectrometer
Light optics
Vacuum system
CL Detector
Plasma cleaner.
CAMECA SX-100是一种高级光谱仪,设计用于高分辨率表面表征和元素分析。它由CAMECA制造,CAMECA是研究和工业应用分析仪器的领先供应商。CAMECA SX 100采用了最先进的技术,在分析微量和纳米级材料的元素组成和结构方面提供了卓越的性能和准确性。SX-100的核心是利用聚焦电子束激发样品表面并产生特征X射线的高性能电子探针微分析仪(EPMA)系统。然后检测和分析这些X射线,以确定样品的元素组成。SX 100配备了多个探测器,包括波长色散光谱仪(WDS)和能量色散光谱仪(EDS),以便对各种元素进行精确和同时的分析。CAMECA SX-100的一个关键特征是其超常的空间分辨率,它允许用户以亚微米精度研究样品。仪器配备了能以纳米级精度定位样品的高精度级,能够对整个样品表面的元素分布进行详细的映射和成像。这种能力在材料科学、地质学和半导体分析等研究领域特别有价值,其中微观结构和微量元素的表征至关重要。CAMECA SX 100提供了广泛的分析模式和功能,以满足不同的研究需求。它支持自动化的映射和线路扫描功能,以实现快速高效的数据收集,以及用于精确元素量化的高级定量分析工具。该仪器还配备了先进的数据处理和可视化软件,使用户能够以清晰和内容丰富的方式解释和展示其结果。除了具有分析能力外,SX-100还具有易用性和可靠性.该仪器配备了直观的用户界面和软件控件,简化了实验工作流程,并最大限度地减少了操作员的错误。其坚固的结构和高质量的部件确保了长期运行的稳定和可重现的性能,使其成为研究实验室和工业质量控制环境的理想工具。总体而言,SX 100代表了用于高分辨率曲面分析和元素表征的前沿解决方桉。凭借其先进的功能、卓越的性能和用户友好的设计,CAMECA SX-100是一种用途广泛且功能强大的工具,适用于各种分析应用程序。无论是研究地质样品、调查半导体材料,还是进行质量控制检查,研究人员和行业专业人士都可以依靠CAMECA SX 100提供准确、有见地的结果,带动科学发现和技术创新。
还没有评论