二手 CAMECA TOF-SIMS IV #293587143 待售
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ID: 293587143
优质的: 1996
Secondary Ion Mass Spectrometer (SIMS), parts machine
Port missing
1996 vintage.
CAMECA TOF-SIMS IV是一种先进的光谱仪，旨在让研究人员测量样品原子和电子之间的相互作用，为各种分析任务提供有用的信息。顾名思义，它采用飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）技术进行操作，使得能够以离子形式测量样品表面存在的瞬态和微量元素。该仪器结合了高能密度分析源的选择，其静态高能离子声学透镜系统。这使得TOF探测器能够快速准确地校准，以适应每个实验的分析需求。这种设置提供了离子计数和质量精度的最佳组合，使研究人员能够在各种时间范围内获取具有广泛动态范围的质谱。这是通过仪器的三阳极设计实现的，该设计公正地选择样品离子并将其发送到安装在样品区域上方的飞行时间探测器。TOF-SIMS IV还设计用于通过其热封和真空密封的样品隔间减少环境污染,包括仪器固有的污染和来自环境环境的污染。这使得样品不会与空气均匀，也不会与环境中的元素相互作用。该仪器还可以配备一个用于成像和样品制图的表面探针，以便于收集有关样品组成和形态的信息。CAMECA TOF-SIMS IV能够映射到1微米的分辨率，为用户提供准确、详细的样品物理特性观察。该仪器模块化程度高，易于适应实验要求，使用户能够完全控制TOF-SIMS IV，与仪器相关联的软件界面提供了一个方便易用的界面，用于控制质谱仪以及查看和分析获得的光谱。这有助于研究人员快速识别材料的同位素和元素成分，并检测杂质或化学成分的变化。CAMECA TOF-SIMS IV由于其鲁棒性和提供准确结果的能力而成为研究人员的首选工具。广泛应用于表面工程、材料科学、生命科学、微电子学和半导体工业、催化等领域，仅举几例。所有这些优点使TOF-SIMS IV成为一种精确快速地分析和收集复杂曲面信息的特殊方法。
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