二手 GENESIS MegaSIMS #293669186 待售

製造商
GENESIS
模型
MegaSIMS
ID: 293669186
System.
GENESIS MegaSIMS是一种利用二次离子质谱(SIMS)测量样品表面元素组成的表面分析仪器。MegaSIMS具有高灵敏度和高速度,能够识别存在于低至百万分之一级的元素。它具有一种新型的LASSEN离子光学器件,能够提高分辨率和更高程度的表面元素组成分析。LASSEN离子光学器件有几个有用的属性。它允许使用非常低的二次离子能量,这是SIMS分析生物相关分子的理想选择。这意味着可以用较少的化学偏差对表面结合分子的原子进行质量分析,从而更清楚地了解样品的化学和组成。另外,利用具有低能量二次离子的GENESIS MegaSIMS,离子中间能降低,从而降低样品充电。这反过来减少了在进行分析之前需要专门的样品准备工作。MegaSIMS配备了几台质谱仪,以优化分析。使用的主检测器是用于检测传入次级离子的次级电子检测器。然后用基质辅助激光解吸(MALDI)系统分析二次离子,以识别表面的元素组成。这包括确定元素的可能位置。MALDI系统也可用于测量同位素比,以进一步分析样品。MALDI分析完成后,进行二次离子质量分析,测量样品中元素的相对丰度。这是一个有用的丰度映射工具,可以检测浓度范围广泛的元素。GENESIS MegaSIMS也可用于同位素分析。这类分析常用于辐射测年,或理解样本的起源。对于同位素分析,也有稀有气体质谱仪。这是用来识别特定元素的不同同位素,因为这些同位素的不同质量可以用来识别样品的不同财富。总体而言,MegaSIMS是一种功能强大、可靠且用途广泛的工具,可用于对样品曲面进行全面分析。有效利用其LASSEN离子光学器件以及其他质谱仪,可以全面分析样品的元素组成,以及同位素比和相对丰度映射。这使得它成为任何希望分析固体或液体样品的实验室的有用工具。
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