二手 ION TOF TOF SIMS IV #9243595 待售

ION TOF TOF SIMS IV（Secondary Ion Mass Spectrometer）是一种先进的质谱学形式，结合了几种不同的技术以进行极精确和精确的分子表征。该仪器能够对离子的质量-电荷（m/z）值及其同位素组成进行高度精确和敏感的测量。TOF离子TOF TOF-SIMS IV利用离子源使样品电离，或者用电子、激光或气相化学反应轰击样品。这些离子穿过电场，然后加速进入飞行时间（TOF）室。然后根据离子的质量将其分离并指向探测器。TOF TOF SIMS IV光谱仪配备了一个飞行时间（TOF）分析仪，用于测量每个离子的飞行时间，从而允许用户确定离子的质荷比。该分析仪还能够测定样品的同位素组成和元素组成。另外，仪器配有离子检测器，提供样品中离子数量的信息。TOF-SIMS IV是一种先进的表面分析工具，能够以高分辨率测量表面的离子成分。它可以探测和分析非常小的物质粒子，甚至到原子水平。除表面分析能力外，还用于无机和有机分析，以及在药物发现和医学诊断中的应用。ION TOF TOF SIMS IV可以分析各种不同样本大小的粒子，包括从纳克到毫克。它还能够以高达10个小数点的精度测量同位素比，使其成为研究同位素地球化学的研究人员的宝贵工具。总体而言，ION TOF TOF-SIMS IV是一种用途广泛、鲁棒的质谱仪，在许多不同领域都有广泛的应用。它进行精确精确测量的能力对于研究各种材料的科学家来说是无价的，从纳米级的粒子到宏观级的酸和固体。它还为研究人员在药物发现和医学诊断方面提供了强大的工具，使他们能够更好地了解各种化合物的组成。