二手 KRATOS ANALYTICAL Axis Ultra DLD #293825422 待售

ID: 293825422
优质的: 2010
X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) system Uninterruptible Power Supplies (UPS) Scanning Acoustic Microscope (C-SAM) Ar Sputter gun 2010 vintage.
KRATOS ANALYTICAL AXIS Ultra DLD光谱仪是为材料科学、纳米技术和表面化学领域的先进表面分析和深度剖析应用而设计的尖端仪器。这种最先进的光谱仪将双微聚焦X射线源与多通道探测器系统集成在一起,为研究人员和科学家提供卓越的性能和分析能力。Axis Ultra DLD光谱仪的核心是创新的双微聚焦X射线源,它由两个独立控制的X射线源组成,可以同时或顺序运行。这种双源配置使高分辨率元素和化学成像具有更高的灵敏度和空间分辨率。X射线源配备了微聚焦光学器件,产生较小的斑点尺寸,允许对表面特征复杂的样品进行精确分析。KRATOS ANALYTICAL AXIS Ultra DLD光谱仪中的多通道探测器系统由复杂的X射线探测器阵列组成,针对不同的分析技术和检测模式进行了优化。该探测器系统可以容纳广泛的X射线能量和信号强度,使其在各种分析应用中用途广泛。多通道设计允许同时检测多种元素和化学物质,提高分析的效率和吞吐量。Axis Ultra DLD光谱仪的主要特点之一是其动态深度剖析能力,使研究人员能够调查不同深度材料的化学成分。这种深度分析功能是通过使用集成到光谱仪中的动态SIMS(二次离子质谱)模块实现的。Dynamic SIMS模块使用聚焦离子束溅射样品表面,允许分析材料中不同深度的元素和分子种类。除了深度剖析外,KRATOS ANALYTICAL AXIS Ultra DLD光谱仪还提供了一系列先进的表面分析技术,包括XPS(X射线光电子光谱)、AES(俄歇电子光谱)和ISS(离子散射光谱)。这些技术为研究样品的元素组成、化学键合和表面形态提供了有价值的信息。光谱仪的高灵敏度和分辨率使其成为研究薄膜、涂层、纳米材料和其他先进材料的理想选择。Axis Ultra DLD光谱仪配备了用户友好的界面和功能强大的软件套件,可实现无缝数据采集、处理和分析。该软件提供了高级数据可视化工具、频谱解卷积算法和定量分析能力,从频谱数据中提取有价值的见解。研究人员可以轻松定制实验参数,创建自动化工作流,并为他们的研究项目生成详细报告。总体而言,KRATOS ANALYTICAL AXIS Ultra DLD光谱仪是一种最先进的仪器,可提供卓越的性能、多功能性和分析能力,用于高级表面分析和深度剖析应用。Axis Ultra DLD光谱仪具有创新的设计、动态深度剖析能力和先进的分析技术,是从事不同材料科学和表面化学领域工作的研究人员和科学家的宝贵工具。
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