二手 PERKIN ELMER PHI-670Xi #9408477 待售

PERKIN ELMER PHI-670Xi
製造商
PERKIN ELMER
模型
PHI-670Xi
ID: 9408477
Scanning Auger Electron Microscope.
PERKIN ELMER PHI-670Xi是一种高性能光谱仪,设计用于分析各种样品。PERKIN ELMER PHI 670XI利用超高速扫描速度、高分辨率光学器件和强大的光学设备,为各种应用提供卓越的测量效果。PHI-670Xi光学系统由光栅和两个干涉仪组成。光栅提供高光谱分辨率,而干涉仪提供更高的光谱分辨率。这些组件的组合允许同时测量高分辨率和低分辨率光谱数据。该装置还具有较小的入射角和广泛的动态范围,使其能够精确测量不同浓度的各种样品。PHI 670XI检测器是一种高度灵敏、极快的线性阵列检测器。这个探测器利用脉冲计数读数来允许检测甚至最小的频谱位移。探测器还包括最多三个数量级的宽动态范围,允许在一系列参数中提供卓越的性能。使用PERKIN ELMER PHI-670Xi,用户可以测量广泛的参数,包括吸收、反射、流畅和折射率。机器还可以测量各种样品,如气体、液体和固体。PERKIN ELMER PHI 670XI的测量范围在200 nm至1,140 nm之间,允许检测测量中甚至最小的变化。用户友好的软件包的存在使PHI-670Xi成为那些寻找高性能光谱仪的人的一个有吸引力的选择。软件包包括一个图形用户界面,它允许用户快速、轻松地为他们的测量设置参数。设置参数后,用户可以启动测量并实时观察结果。此外,该软件还允许轻松存储、操作和导出数据。总体而言,PHI 670XI光谱仪是一个理想的选择,任何人都可以使用一个易于使用的软件包来寻找一个强大、高性能的工具。快速扫描速度和高分辨率光学器件的结合使得这种光谱仪适合于广泛的测量。图形用户界面的加入进一步简化了它的使用,使甚至没有经验的用户能够轻松获得准确的测量。
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