二手 PHYSICAL ELECTRONICS / PHI 670 #9205333 待售

PHYSICAL ELECTRONICS/PHI 670是一种高度精密的光谱仪,设计用于分析复杂的材料和表面。PHI 670提供一系列功能,可进行精确的数据收集和分析。该仪器采用激光光谱仪进行高级测量，包括角度分辨光发射光谱（ARPES）、紫外线光发射光谱（UPS）和X射线光电子光谱（XPS）。光谱仪还提供了集成分析仪，它提供了关于样品的广泛信息，包括结合能和光谱分辨率。PHYSICAL ELECTRONICS 670包含一个光学表，灵活的样品架和高度灵敏的探测器，允许精确准确的数据收集。该表配置有一个滑动反射单色仪和一个速度选择孔径，接受从紫外线到X射线频率的不同激光能量输入。柔性样品支架允许优化表面询问和角度分辨率测量,且样品定位或旋转误差最小。同时，可以调整样品支架中的平衡基板温度，使其与激光能量源相匹配。光谱仪提供两种不同的数据收集模式。单发数据收集的特点是快速的数据采集和最小的设置,而实时数据收集则允许对动态过程进行分析。另外，670具有多通道扫描能力，可以对地下层和薄膜的折射率进行深度剖析。这对于监测基板层的光学和干涉特性非常有用。再者，PHYSICAL ELECTRONICS/PHI 670可以同时测量解吸、散射、化学反应和热释放等多个动能和热过程。PHI 670旨在测量精确的数据,同时提供快速的数据收集和采集过程。它结合了多种功能,是PHI中的各种应用程序的绝佳选择。除了测量复杂的过程外，它还能有效地表征材料、薄膜、基板以及用于表面科学和材料分析的传感器。PHYSICAL ELECTRONICS 670非常适合需要先进光谱仪进行精确数据测量的工业和研究实验室。