二手 PHYSICAL ELECTRONICS / PHI TRIFT I #293813983 待售

PHYSICAL ELECTRONICS / PHI TRIFT I
ID: 293813983
Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometer (ToF-SIMS).
PHYSICAL ELECTRONICS/PHI TRIFT I是一款功能强大、全自动的光谱仪,专为低角度飞行时间质谱(TOF-MS)设计。该设备利用线性离子阀或仅RF离子源实现了一个坚固和高度敏感的环境,以进行精确和快速的测量。该系统还使用获得专利的数字TOF检测单元收集数据。PHI TRIFT I具有先进的机器人自动采样器,易于使用。机器的动态范围显着增加,范围为3至6000 m/z以上,质量分辨率为5至6000 m/z。它具有18,000个用于复杂溷合物统计数据分析的峰值容量。该工具具有用户友好的操作软件,集成数据分析套件包含独特的功能,例如用于示例图形表示的交互式可视化工具。PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT I的独特设计融合了化学电离(CID)和电子冲击(EI)技术,允许研究单同位素和多线光谱。这种技术组合在金属和聚合物等各种表面提供了最高的应用精度。TRIFT I允许多种检测技术。单离子计数(SIC)和有源像素控制器(Active Pixel Controller, APC)高达10,000帧/秒,可用于高通量有机化合物分析,从而实现统计鲁棒数据分析。可选的片段离子扫描功能为用户提供了有机化合物组成差异的精确详细信息。数据提取工具旨在提供对样本特征的直观视图。物理电子/PHI TRIFT I还具有离子光学元件的智能温度控制和直接分析液体和固体样品的自动喷射器/探测器。它还包括一个可选的超高真空室,以便于优化定量和定性分析。它拥有一个完全定制的用户界面,具有许多不同的功能,使其成为用户设计实验的更高效、更直观的方式。PHI TRIFT I是一种功能极为强大、用途广泛、性能极高的光谱仪,适用于广泛的应用。它是为可靠的操作和最大的适应性结合各种样品矩阵和自动化样品处理的可能性而设计的。该仪器能够快速准确地进行例行测量,使研究人员能够在尽可能短的时间内获得高质量的数据。
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