二手 PHYSICAL ELECTRONICS / PHI TRIFT III #9106480 待售

PHYSICAL ELECTRONICS/PHI TRIFT III是为PHI （PE）测量应用而设计的多功能、功能强大的光谱仪。它有一个通用的六通道检测设备，能够测量和分析物理和电气性能在纳米，皮秒，和飞秒水平。PHI TRIFT III是PHYSICAL ELECTRONICS开发的一系列光谱仪仪器中的第三种。PHYSICIAL ELECTRONICS TRIFT III提供了广泛的信息和分析工具,能够全面测试和分析半导体材料和器件,包括电压敏感电阻、光电器件、功率半导体器件和集成电路。PHYSICAL ELECTRONICS/PHI TRIFT 3也非常适合探测各种领域,包括电气、光学和热特性。PHI TRIFT 3配备了高分辨率法拉第效应检测系统，提供超快、皮秒级、无散粒噪声的测量。它还配备了用于测量结电容、扩散电容以及相关特性的宽带脉冲激光器。激光具有二极管、闪光灯和光电二极管,用于光学探测任何正在测试的设备。PHYSICIAL ELECTRONICS TRIFT 3还配备了微波频率噪声测试单元，提供快速准确的噪声测量。该机器提供了研究工具声学、环境噪声源和热噪声的能力。另外，物理电子/PHI TRIFT3能够测量纳米级器件的千兆赫噪声。PHI TRIFT 3有一个集成的E-field-sensor单元，能够进行皮秒级的电气测量，包括电场、感应元件、电容元件等特性。该资产可以测量晶体管、双极结晶体管和场效应晶体管的物理性质。PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT 3还配备了先进的场发射场测量系统，用于研究纳米级电生理反应。该模型可以测量介电响应、电子场响应及其相互作用。其扫描电子显微镜允许以纳米尺度分辨率研究纳米设备的微观特征。总之，PHYSICAL ELECTRONICS/PHI TRIFT3光谱仪是物理、电气和光学测试应用的理想仪器。它包含了一套全面的测量和分析工具，用于调查半导体器件在皮秒和飞秒水平。其高效的电子场传感器和先进的场发射场测量系统使其成为纳米级器件表征的宝贵工具。