二手 PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT97 #293759391 待售
网址复制成功！
单击可缩放
ID: 293759391
Time Of Flight Secondary Ion Mass Spectrometer (TOF-SIMS)
Ion sources: Ga+, Cs+, O2+
Detection limit: ppm-ppb
Spatial resolution at imaging: >100 nm
Probing depth: 1-3 monolayers in static mode
Depth resolution: 0.5 nm with 500eV sputter gun
Mass range: 0-10.000 amu
Detectable elements: H-U.
PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT97是一种最先进的光谱仪，设计用于利用俄歇电子光谱（AES）和X射线光电子光谱（XPS）技术进行表面分析。这种高性能仪器使研究人员和科学家有能力研究具有特殊灵敏度和深度剖析能力的材料的表面化学、组成和结构。TRIFT97光谱仪配备了半球形电子能量分析仪，可以精确测量发射电子的能量，从而能够准确测定样品表面的元素组成和化学键合态。该系统设计用于在超高真空条件下运行，以最大程度地减少表面污染，并在分析过程中保持较高的信噪比。该仪器采用精密电子枪组件，将聚焦电子束发射到样品表面，诱导俄歇和光电子发射。这些发射的电子随后被电子能量分析仪收集，并经过处理生成高分辨率光谱，揭示有关样品元素组成和化学环境的详细信息。PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT97光谱仪配备了多个检测通道，可同时获取螺旋光谱和XPS光谱，从而对复杂表面进行高效而全面的分析。该系统允许用户通过用离子束溅射样品，同时持续监测表面成分和化学状态的变化来进行深度剖析实验。TRIFT97光谱仪的一个关键特点是其先进的数据采集和处理软件，它为仪器控制、数据采集和分析提供了一个用户友好的界面。该软件允许实时可视化获得的光谱，峰值识别，元素浓度的量化，以及基于结合能的化学态解释。该仪器还包括一系列可选的附件和升级，以增强其分析能力，例如增强XPS分辨率的单色X射线源、顺序溅射和分析的深度剖析模式，以及在受控温度下进行现场实验的样品加热和冷却阶段。总而言之,PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT97是一种用途广泛且功能强大的光谱仪,它为表面分析应用程序提供了最先进的功能。该仪器具有较高的灵敏度、分辨率和深度剖析能力，非常适合探索材料科学、纳米技术、催化、半导体研究等领域广泛材料的表面特性。它直观的软件界面和可选的附件使它成为研究人员和科学家寻求深入了解原子层面表面的化学和结构的宝贵工具。
还没有评论