二手 ULVAC / PHYSICAL ELECTRONICS / PHI TRIFT V Nano-TOF #293644316 待售

ID: 293644316
Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometer (ToF-SIMS).
ULVAC/PHYSICAL ELECTRONICS/PHI TRIFT V Nano-TOF(飞行时间)光谱仪是一种电子仪器,设计用来测量在广泛能量范围内的粒子。这类光谱仪检测离子、电子和其他带电粒子的飞行时间,使其具有测量粒子速度、能量和强度的能力。PHI TRIFT V Nano-TOF利用飞行时间质谱(TOFMS)来高精度测量粒子。ULVAC TRIFT V Nano-TOF由几个组件组成,包括离子源、TOF分析仪、探测器和分析系统。离子源将离子注入TOF分析仪,使粒子加速到所需速度。探测器然后测量飞行的离子时间、粒子速度、能量水平和粒子强度。分析系统利用高精度脉冲计数器来计算粒子的到达时间。物理电子TRIFT V纳米TOF光谱仪提供高性能的粒子检测。它的超宽范围能量检测允许粒子在从低能电子到高能离子的广泛能量范围内被精确检测。光谱仪也是高度敏感的,允许具有良好背景抑制的低级检测。此外,TRIFTvNano-TOF速度快,用途广泛,可以同时测量多种粒子类型。ULVAC/PHYSICAL ELECTRONICS/PHI TRIFT V纳米-TOF光谱仪是检测粒子飞行时间、速度、能级和强度的有力工具。它的多功能设计、高灵敏度和超宽范围的能量检测功能使其成为许多研究应用的宝贵仪器。该仪器非常适合光致发光测量、表面科学、气体分析和监测以及分子碎片化研究等应用。此外,这种光谱仪提供了市场上任何TOFMS系统可用的最精确的粒子能量和速度测量。
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