二手 ULVAC TOF-SIMS TFS-210 #9078417 待售

ULVAC TOF-SIMS TFS-210是为高级研发应用而设计的TriboField®二次离子质谱仪（SIMS）。本次飞行（TOF-SIMS）仪器分辨率高，质量精度高，是半导体和有机材料表面表征的理想选择。TOF-SIMS TFS-210系统能够分析从几个amu到超过1500 amu的大质量范围,在低质量范围内的灵敏度高达大约50 amu。以其高精度的光学设计，提供优异的质量分辨率与同位素质量的同位素峰分离。ULVAC TOF-SIMS TFS-210具有tribofocused source,允许对甚至小分子离子进行有效的质谱分析。此外，系统还配备了电喷雾离子源，用于分析含有有机化合物的样品，以及用于小分子的正电离。TOF-SIMS TFS-210还有一个用于选择初级离子的两步漂移管系统，以便能够将感兴趣的次级离子与不需要的离子分离。TOF-SIMS有五种不同的数据采集方法，使得它在应用中用途广泛。这些程序包括传输方法、三步解吸方法、可变能量质量选择方法、检测痕量物种的反冲离子方法、以及可以进行离子成像和溅射深度剖析的侵蚀成像方法。ULVAC TOF-SIMS TFS-210还提供了几种软件选项,便于样品准备和数据处理。为需要更深入地访问数据和分析功能的人员提供了教程和培训。总体而言，TOF-SIMS TFS-210是深度表面表征的理想工具，它结合了高分辨率和卓越的质量精度。ULVAC TOF-SIMS TFS-210在样品制备技术和易于使用的软件方面具有灵活性，非常适合各种领域的研究人员。