二手 ACCRETECH / TSK 902501 #9390981 待售

ACCRETECH / TSK 902501
ID: 9390981
Wafer thickness measurement system.
ACCRETECH/TSK 902501是一款高品质、高性能的晶圆测试和计量设备。它能够对用于先进电子产品和系统的各种材料和组件进行精确的测试、测量和表征。该系统能够精确测量各种材料的精确电气特性,从晶片到芯片。该设备具有先进的光学计量能力,使其与竞争对手脱颖而出。所使用的激光技术使得能够从多种材料中高速非接触测量晶片表面,如非晶硅、砷化氙、金刚石等半导体工业常用的材料。利用这种先进的计量方法,机器能够精确测量厚度最大为4mm的样品的电学和光学特性,用户可以指定0.1至4mm的测量面积。TSK 902501是一个应用专用测试头来测量特定参数的集成工具。这种多功能性使得它适用于晶体管、薄膜晶体管、超薄栅极氧化物、高k电介质等材料的表征和验证等等。资产包括用于电容的功能强大的非接触式测试头系统和CMOS测试系统。电容测试头测量直流至10MHz频率范围,以更准确地评估电容特性,而CMOS头测量电容至100MHz。这种利用两个测试头提供的高精度的多功能性使得ACCRETECH 902501成为一系列测量和评估的理想选择。该模型具有很高的精确度和可重复性,同时仍可对各种材料进行高速测量。三σ不确定性小于0.1 nF、平面内操作稳定性小于0.1 nF变化和0.001Ω隔离均保证了精度和可重复性。利用设备的动力空气浮动设计,用户可以轻松、即时地生成测量结果。902501晶圆测试和计量系统提供了一种可靠、准确和富有成效的方法来对先进电子产品和系统中使用的各种材料进行精确的测试、测量和表征。这一功能广泛、功能强大的单元使其成为半导体器件设计和工艺优化的理想解决方桉。
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