二手 ACCRETECH / TSK E-MF1000-100 #9399112 待售

ACCRETECH / TSK E-MF1000-100
ID: 9399112
Wafer thickness measurement system.
ACCRETECH/TSK E-MF1000-100是一种最先进的晶圆测试和计量设备,旨在在半导体制造过程中最大限度地提高产量、吞吐量和精度。它能够执行一整套晶圆测试和计量服务,包括晶圆映射、电气测试和计量。TSK E-MF1000-100利用先进的光学结构,为精确的临界尺寸测量和薄膜应力测量提供卓越的成像分辨率、更高的吞吐量和可靠的性能。其高效的光学设计允许快速、精确地测量临界线宽、接触环尺寸和轮廓深度,从而实现精确的晶圆映射和缺陷识别。ACCRETECH E MF1000 100配备了高级电气测试功能,包括多通道电流测试、精确电压测量、扫描电压测量和多获取数据采集单元。这样就能够对用于分析电气泄漏和过程集成非理想性的设备进行高效、准确的测试和验证。E MF1000 100能够支持广泛的计量和计量相关活动,包括应力测量、切块厚度测量和粘合、微观抗性测试以及线高测量。所有这些参数都可以使用各种各样的测量技术进行精确测量,包括接触/非接触探针、飞行探针和电容探针。E-MF1000-100还配备了一个完全集成的自动化系统平台,使其能够同时执行许多测试和任务,最大限度地减少新产品的上市时间,并提高现有生产线的产量。这包括自动晶圆处理、机器人识别以及一套自动化的产品加载和测试组件。最后,TSK E MF1000 100还配备了高级软件包,在测试和计量过程中提供了无与伦比的控制和支持级别。此软件包允许用户自定义流程以适应特定的晶圆级应用程序,同时提供无缝环境以优化设备性能并确保可靠的结果。综上所述,ACCRETECH E-MF1000-100是一个先进的晶圆测试和计量单元,旨在使半导体制造过程中的产量、吞吐量和精度最大化。ACCRETECH/TSK E MF1000 100凭借其最先进的光学结构、全面的电气测试能力、集成的机器平台和软件包,提供了广泛的功能,使其成为现代半导体行业测试和计量需求的理想解决方桉。
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