二手 ACCRETECH / TSK Surfcom 1900SD3 #293652637 待售

ID: 293652637
Surface roughness / Contour measurement system X-Axis: 100 mm Z-Axis: 400 mm Stone surface plate: 1000 × 450 mm Operating system: Windows Vista.
TOKYO SEIMITSU Surfcom 1900SD3是一种晶圆测试和计量设备,专门测量半导体晶圆的电气特性。Surfcom 1900SD3系统配备了多种测量技术,可确保最终产品的质量控制性能。这一单元包括的一些关键技术是光学检查、电气表征以及工艺认证。TOKYO SEIMITSU Surfcom 1900SD3的光学检测机采用高分辨率CCD相机工具,能够检测和分析高达0.02 um的缺陷和特征尺寸。该资产还能够测量直径达300毫米的单晶晶片。Surfcom 1900SD3的电气表征方面测量了每个晶片的电气特性。该模型利用先进的方法来收集有关电阻、电容、晶圆功率分布和其他重要电气特性的数据。TOKYO SEIMITSU Surfcom 1900SD3还配备了工艺认证设备。此功能按照制造商规定的过程进行测试;然后将数据分析与指定过程的结果进行比较。Surfcom 1900SD3是一个用户友好的系统,它还提供远程控制访问。这允许远程操作测试参数,以及远程查看获得的结果并直接从中心进行实时更改。TOKYO SEIMITSU Surfcom 1900SD3最有利的方面之一就是它的高位置和角度精度。这样可确保对小型特征尺寸进行准确、可重复的测试和测量。这个单位不仅准确,而且速度也很快。它可以在短短30秒内提供直径达200毫米的晶片的结果。Surfcom 1900SD3是一种先进、可靠的半导体晶片测试和测量机器。其测量技术多种多样,精度高,是质量控制和工艺认证的完美工具。
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