二手 ADE 9300 #293804212 待售

ADE 9300
製造商
ADE
模型
9300
ID: 293804212
Wafer inspection system.
ADE 9300晶圆测试和计量设备是业界领先的平台,用于测量制造环境中先进集成电路(ICs)的关键特性。该系统采用了一套可靠的电气和光学计量工具,以比目前其他设备更高的精度和速度来测量集成电路的性能。电气和光学能力的紧密集成使得9300单元成为现代半导体制造商的理想选择。ADE 9300机器提供高通量和精确的电气测试,包括对尺寸可达3mm的设备进行直流和溷合模式测量。该工具将精密测量单位(PMU)与数字信号调节和高性能光学层测量相结合。此外,9300资产提供了在同一配置中测量多种设备类型的灵活性。ADE 9300使用激光干涉测量来扫描晶圆表面,使模型能够映射出设备的布局及其电气特性。通过识别相关特征和电极,9300可以同时测量接触电阻、片状电阻、串扰等参数。ADE 9300采用高分辨率光学特征识别(OFREC)技术,能够测量低至15nm的设备上的接触/连接电阻,测量频率高达80 MHz。此外,9300设备能够以令人印象深刻的速度和精度进行测量。它的快速晶圆扫描和先进的测量算法减少了测试时间,同时仍然允许精确测量甚至最精细的参数。此外,ADE 9300还与其他设备集成,使系统能够轻松监控和控制从晶圆拾取到分配的整个测试过程。9300为现代半导体制造商提供了全面、可扩展的解决方桉。其全面的测试和计量功能使用户能够更好地控制过程,并使其成为高产生产的理想选择。凭借强大的硬件和软件,ADE 9300可以轻松快速地配置,以满足每个客户的特定测试和计量需求。
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